2010 대한뇌기능매핑학회 추계학술대회 | |
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년도 | 2010 |
학술지명 | 2010 대한뇌기능매핑학회 추계학술대회 |
논문명 | Reliability of Cortical Thickness Measurement from Different Scanners : Pilot Study of Multi-center Neuroimaging Bank |
게재권/집 | |
수록페이지 | |
저자명 | Seun Jeon, Jong-Min Lee, Jong-Heon Kim, D. L. Na, Sun I. Kim |
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